عنوان انگلیسی مقاله: Characterization of Nanocrystals Using Spectroscopic Ellipsometry
عنوان فارسی مقاله: توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما.
دسته: شیمی
فرمت فایل ترجمه شده: ورد قابل ویرایش word 2003 یا 2007 یا بالاتر (doc یا docx)
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 14
ترجمه سلیس و روان مقاله آماده خرید می باشد.
_______________________________________
چکیده ترجمه:
اولین
کاربرد الیپسومتری برای اندازه گیری پوشش های نازک پلی- و نانوکریستال به
دهه ها پیش بر می گردد. مهمترین گام در مسیر تحقیقات الیپسومتری پوشش های
نازک کامپوزیت، شناخت اولین الیپسومتری طیف نما در دهه 70 بوده است [3, 4,
8]، که امکان اندازه گیری نقش دی الکتریک را امکان پذیر ساخت، که جزء
انگاری آن مستقیما در ارتباط با حساسیت وضعیت چگالی مشترک الکترونیک بوده
که بستگی به تغییرات ساختار کریستال دارد. اولین مدل ها بر مبنای روش
میانگین موثر با استفاده از عوامل سارنده توابع دی الکتریک [5] بوده،
درحالیکه بخش حجیمی از موئلفه ها در ارتباط با ویژگی های کریستال با پوشش
نازک می باشند. این روش بر مبنای نیرومندی اش، محبوب می باشد.